en: Open Defect Detection Method Based on Supply Current in CMOS Logic Circuits

ja: CMOS論理回路の電源電流測定による断線故障検出法に関する研究

en: Grants-in-Aid for Scientific Research

ja: 科学研究費助成事業


en: Electrical Testing of Open Defects in Deep Sub-micron CMOS Logic Circuits

ja: ディープサブミクロンCMOS論理回路内断線故障の電気的検査法に関する研究


en: Current Testing for Opens and Shorts in SoCs and SiPs

ja: SoC、SiPの断線・短絡故障の電流テスト法に関する研究


en: Supply Current Testable Design of DACs in SoCs

ja: SoC内DA変換器の電流テスト容易化設計法に関する研究


en: Dynamic Supply Current Test Method with Built-in IDDT Appearance Time Sensor

ja: 組み込み型電圧変動センサを用いた動的電流テスト法に関する研究


en: IC Test Method Based on Charge Volume Injected from a Power Supply Circuit within a Timing Window

ja: タイミングウインドウ内の電荷供給量によるＩＣの電流テスト法に関する研究


en: Open Defect Detection at Interconnects among IC Chips with Relaxation Oscilators

ja: ＩＣチップの入出力信号線の弛張発振回路を用いた破断予兆検出法に関する研究


en: Design for Testability for Electrical Tests of Interconnects between Dies after Shipment

ja: ダイ間配線の出荷後電気検査をも可能にする組込み型検査回路に関する研究