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en: 第10回研究会最優秀講演賞

ja: 第10回研究会最優秀講演賞

en: 遅延検査容易化設計を用いるPUF回路の周囲温度による動作性能評価

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en: 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会

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en: THE TEACHER OF THE YEAR

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en: Faculty of Science and Technology

ja: 理工学部


en: 2024アカデミックプラザ賞

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en: 待機状態IC の入力配線検査を行うバウンダリスキャン用コントローラの試作

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en: Japan Institute of Electronics Packaging

ja: 社団法人 エレクトロニクス実装学会