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期間: 2004.42023.3

2004年度(平成16年度)

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2004年度(平成16年度) / 特許

1) 2,004 特許 入谷 忠光, 上保 徹志 : 距離測定装置,距離測定方法および距離測定プログラム, 特願2004-146358 (2004年5月), 特開2005-326345 (2005年11月), 特許第3768511号 (2006年2月). [EdbClient | EDB]

2004年度(平成16年度) / 実用新案

(なし)

2004年度(平成16年度) / 意匠

(なし)

2005年度(平成17年度)

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2005年度(平成17年度) / 特許

1) 2,005 特許 木内 陽介, 池原 敏孝, 髙橋 章, 芥川 正武, 中野 政之, 森 美怜, 有田 憲一 : 紫外線殺菌装置, 特願2005-190625 (2005年6月), 特開2007-7083 (2007年1月), 特許第4771402号 (2011年7月). [EdbClient | EDB]
2) 2,005 特許 入谷 忠光, 若林 和博 : 距離測定装置,距離測定方法および距離測定プログラム, 特願2005-206798 (2005年7月), 特開2007-24671 (2007年2月), 特許第3784823号 (2006年3月). [EdbClient | EDB]
3) 2,005 特許 橋爪 正樹, 山達 正明 : 固体撮像装置およびその特性検査方法, 特願2006-032796 (2006年2月), 特許第3932052号 (2007年3月). [EdbClient | EDB]

2005年度(平成17年度) / 実用新案

(なし)

2005年度(平成17年度) / 意匠

(なし)