Excel(xlsx) for Microsoft Excel, CSV(UTF-8) for Apple Numbers, TEXT for Text Editor, DOCX for Microsoft Word
期間: 2004.4〜2023.3

2004年度(平成16年度)

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2004年度(平成16年度) / 特許

1) 2,004 特許 口井 敏匡, 四柳 浩之 : 半導体集積回路，スキャン回路設計方法，テストパターン生成方法，および，スキャンテスト方法, 特願2004-225962 (2004年8月), 特開2006-047013 (2006年2月), . [EdbClient | EDB]
2) 2,004 特許 橋爪 正樹, 一宮 正博 : 電源電流による検査容易化論理回路, 特願2006-112885 (2004年10月), . [EdbClient | EDB]

2004年度(平成16年度) / 実用新案

(なし)

2004年度(平成16年度) / 意匠

(なし)

2005年度(平成17年度)

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2005年度(平成17年度) / 特許

(なし)

2005年度(平成17年度) / 実用新案

(なし)

2005年度(平成17年度) / 意匠

(なし)