知能電子回路講座 (詳細)

期間: 2004.4〜2011.3

2004年度(平成16年度)

patent.{@.apply.date="20040400 20050399" @.organization=\E{148365}}

2004年度(平成16年度) / 特許

1)	2,004	特許	口井敏匡, 四柳浩之 : 半導体集積回路，スキャン回路設計方法，テストパターン生成方法，および，スキャンテスト方法, 特願2004-225962 (2004年8月), 特開2006-047013 (2006年2月), . [EdbClient \| EDB]
2)	2,004	特許	橋爪正樹, 一宮正博 : 電源電流による検査容易化論理回路, 特願2006-112885 (2004年10月), . [EdbClient \| EDB]

2004年度(平成16年度) / 実用新案

(なし)

2004年度(平成16年度) / 意匠

(なし)

2005年度(平成17年度)

patent.{@.apply.date="20050400 20060399" @.organization=\E{148365}}

2005年度(平成17年度) / 特許

(なし)

2005年度(平成17年度) / 実用新案

(なし)

2005年度(平成17年度) / 意匠

(なし)

2006年度(平成18年度)

patent.{@.apply.date="20060400 20070399" @.organization=\E{148365}}

2006年度(平成18年度) / 特許

1)	2,006	特許	橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之 : 電子回路の断線故障検査法とその検査容易化回路, 特願2006-309430 (2006年11月), 特開2008-122338 (2008年5月), . [EdbClient \| EDB]
2)	2,006	特許	宋天, 山田篤, 島本隆 : 算術符号化装置，算術符号化方法，算術符号化プログラム及びプログラムを格納したコンピュータで読み取り可能な記録媒体, 特願2008-503883 (2007年3月), 特開WO2007/102518 (2007年9月), 特許第4547503号 (2010年7月). [EdbClient \| EDB]

2006年度(平成18年度) / 実用新案

(なし)

2006年度(平成18年度) / 意匠

(なし)

2007年度(平成19年度)

patent.{@.apply.date="20070400 20080399" @.organization=\E{148365}}

2007年度(平成19年度) / 特許

(なし)

2007年度(平成19年度) / 実用新案

(なし)

2007年度(平成19年度) / 意匠

(なし)

2008年度(平成20年度)

patent.{@.apply.date="20080400 20090399" @.organization=\E{148365}}

2008年度(平成20年度) / 特許

(なし)

2008年度(平成20年度) / 実用新案

(なし)

2008年度(平成20年度) / 意匠

(なし)

2009年度(平成21年度)

patent.{@.apply.date="20090400 20100399" @.organization=\E{148365}}

2009年度(平成21年度) / 特許

(なし)

2009年度(平成21年度) / 実用新案

(なし)

2009年度(平成21年度) / 意匠

(なし)

2010年度(平成22年度)

patent.{@.apply.date="20100400 20110399" @.organization=\E{148365}}

2010年度(平成22年度) / 特許

(なし)

2010年度(平成22年度) / 実用新案

(なし)

2010年度(平成22年度) / 意匠

(なし)