! 口井 敏匡, 四柳 浩之 : 半導体集積回路,スキャン回路設計方法,テストパターン生成方法,および,スキャンテスト方法, 特願2004-225962 (2004年8月), 特開2006-047013 (2006年2月), . 橋爪 正樹, 一宮 正博 : 電源電流による検査容易化論理回路, 特願2006-112885 (2004年10月), . 橋爪 正樹, 山達 正明 : 固体撮像装置およびその特性検査方法, 特願2006-032796 (2006年2月), 特許第3932052号 (2007年3月). 一宮 正博, 橋爪 正樹 : 論理回路の断線故障の検査装置, 特願2006-114044 (2006年4月), . 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之 : 電子回路の断線故障検査法とその検査容易化回路, 特願2006-309430 (2006年11月), 特開2008-122338 (2008年5月), . 宋 天, 山田 篤, 島本 隆 : 算術符号化装置,算術符号化方法,算術符号化プログラム及びプログラムを格納したコンピュータで読み取り可能な記録媒体, 特願2008-503883 (2007年3月), 特開WO2007/102518 (2007年9月), 特許第4547503号 (2010年7月). 宋 天, 板東 孝文, 島本 隆 : 動画像符号化装置,動画像符号化方法,動画像符号化プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体, 特願2011-088674 (2011年4月), 特許第5950260号 (2016年6月). 矢崎 徹, 植松 裕, 池田 康浩, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 伊喜利 勇貴 : 半導体装置,及び半導体集積回路, 特願2017-107547 (2017年5月), 特開2018-206829 (2018年12月), 特許第2017-107547号 (2018年12月).