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宋 天 : Hierarchical Structure Based Fast Mode Decision for H.265/HEVC, IEEE CASS Shikoku Chapter Young Researcher Award, IEEE CAS Society Shikoku Chapter, 2016年9月.
上手 洋子 : 徳島県科学技術大賞(若手研究者部門), 徳島県, 2016年10月.
藤谷 和依, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛 : 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減, 第3回研究会若手優秀講演賞, 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会, 2016年11月.
河塚 信吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について, システムLSI設計技術研究会2016年度 優秀発表学生賞, 情報処理学会 SLDM研究会, 2017年8月.
片山 貴文, 石 文, 藤木 良太, 宋 天, 島本 隆 : 水中ロボットコンテストURPC2017, 銀賞, Underwater Robot Picking Contest(大連, 中国), 2017年9月.
片山 貴文, 石 文, 藤木 良太, 宋 天, 島本 隆 : 水中ロボットコンテストURPC2017, 国際協力賞, Underwater Robot Picking Contest(大連, 中国), 2017年9月.
Masaki Hashizume, Shyue-Kung Lu and Cheng-Ju Tsai : Enhanced Built-In Self-Repair Techniques for Improving Fabrication Yield and Reliability of Embedded Memories, IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award, IEEE CASS Shikoku Chapter, Sep. 2017.
田中 宏樹, 宋 天, 島本 隆 : 顕著性検出を用いた動画像符号化アルゴリズムに関する研究, 優秀論文発表賞, 電気学会, 2017年10月.
大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 電荷注入回数によるIC間配線の試験回路, 第31回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2018年3月.
Shyue-Kung Lu, Shu-Chi Yu, Masaki Hashizume and Hiroyuki Yotsuyanagi : Fault-aware page address remapping techniques for enhancing yield and reliability of flash memories, Best Paper Award, The 26th IEEE Asian Test Symposium, Oct. 2018.
平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減, 第5回研究会若手優秀講演賞, 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会, 2018年12月.
Masaki Hashizume, Shyue-Kung Lu, Li Tsu-Lin and Chen Jiann-Liang : Address Scrambling and Data Inversion Techniques for Yield Enhancement of NROM-Based ROMS, IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award, IEEE CASS Shikoku Chapter, Feb. 2019.
Jumpei Kawano, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : On Design and Evaluation of a TDC Cell Embedded in the Boundary Scan Circuit for Delay Fault Testing of 3D ICs, Best Paper Award, International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), Jun. 2019.
Shyue-Kung Lu, Hao-Cheng Jheng, Hao-Wei Lin and Masaki Hashizume : Address Remapping Techniques for Enhancing Fabrication Yield of EmbeddedMemories, 2018 JETTA/TTTC Best Paper Award, IEEE, Nov. 2019.
Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Amplitude Death in Strongly Coupled Polygonal Oscillatory Networks with Sharing Branch, IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award, IEEE CAS Society Shikoku Chapter, Dec. 2020.
四柳 浩之 : 教養教育(一般教養教育科目群), 教養教育賞, 徳島大学, 2021年4月.
Michiya Kanda, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : Open Defect Detection Not Utilizing Boundary Scan Flip-Flops in Assembled Circuit Boards, IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award, IEEE CASS Shikoku Chapter, Feb. 2022.
Yasuteru Hosokawa and Yoshifumi Nishio : Applications and Oscillatory Phenomena of Cellular Neural Network Using Two Kinds of Cloning Templates, Best Paper Award, The Research Institute of Signal Processing Japan, Mar. 2022.
片山 翔太, 有元 康滋, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 遅延故障検査容易化バウンダリスキャンにおける観測対象判別回路による検査時間短縮, 2022アカデミックプラザ賞, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2022年6月.
高見 圭悟 : Evaluation of testing TSVs using the delay testable circuit implemented in a 3D IC, IEEE CEDA All Japan Joint Chapter Design Gaia Best Poster Award 2022, IEEE CEDA ALL JAPAN JOINT CHAPTER, 2022年11月.
Yoshifumi Nishio : For Excellent Leadership in CASS Regional Activities and Membership Development, Meritorious Service Award, IEEE Circuits and Systems Society, Jun. 2022.
Hiroyuki Yotsuyanagi : THE TEACHER OF THE YEAR, Faculty of Science and Technology, Mar. 2024.
大濱 瑛祐, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 遅延検査容易化設計を用いるPUF回路の周囲温度による動作性能評価, 第10回研究会最優秀講演賞, 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会, 2023年11月.
Taishi Segawa : Simulation of Chaotic Circuits with Effects of Memristor, SSJW'23 Best Presentation Award, IEEE CAS Society, Shanghai and Shikoku Chapters, Dec. 2023.
Kazuki Yasufuku : Study of Hierarchical Hetero Associative Memory Using van der Pol Oscillator Synchronization, SSJW'23 Best Presentation Award, IEEE CAS Society, Shanghai and Shikoku Chapters, Dec. 2023.
Yukinojo Kotani : Synchronization in Three Coupled van der Pol Oscillators with Different Memristor Coupling Strength, NCSP'24 Student Paper Award, The Research Institute of Signal Processing Japan, Mar. 2024.
鶴岡 蒼久, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 待機状態IC の入力配線検査を行うバウンダリスキャン用コントローラの試作, 2024アカデミックプラザ賞, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2024年6月.