機械科学系プログラム (詳細)

期間: 2022.4〜2026.3

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1)	2,022	特許	出口祥啓, 永瀬正明, 西野巧二, 池田信一 : 濃度測定方法および濃度測定装置, 特願10-2022-7016364 (KOREA) (2022年5月), 特許第10-2733863(KOREA)号 (2024年11月). [EdbClient \| EDB]
2)	2,022	特許	出口祥啓, 永瀬正明, 西野巧二, 池田信一 : 濃度測定方法および濃度測定装置, 特願PCT/JP2021/008377 (2022年7月), 特許第12,078,590(USA)号 (2024年9月). [EdbClient \| EDB]
3)	2,022	特許	福井涼, 石川真志, 西野秀郎 : 超音波励起サーモグラフィ非破壊検査における定在波起因の発熱低減方法，そのシステム及びそのプログラム, 特願2022-112835 (2022年7月), 特開2024-11106 (2024年1月), 特許第7623642号 (2025年1月). [EdbClient \| EDB]

(なし)

(なし)

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2,023

特許

白瀬左京, 髙岩昌弘 : 制御入力生成装置，制御装置，制御入力生成方法，アクチュエータおよび演算回路, 特願2023-98254 (2023年6月), . [EdbClient | EDB]

(なし)

(なし)

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1)	2,024	特許	牧本宜大, 奈良悠矢, 溝渕啓 : 切削加工時の異常検出方法および装置, 特願2024-076209 (2024年5月), . [EdbClient \| EDB]
2)	2,024	特許	大石昌嗣, 安井武史, 江本顕雄 : 撮像装置, 特願2025-026846 (2025年2月), . [EdbClient \| EDB]

(なし)

(なし)

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2,025

特許

石川真志, 西野秀郎 : サーモグラフィ非破壊検査装置，非破壊検査方法，コンピュータプログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器, 特願2025-104468 (2025年6月), . [EdbClient | EDB]

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