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期間: 2013.92025.3

2013年度(平成25年度)

patent.{@.apply.date="20130900 20140399" @.organization=\E{68727}}

2013年度(平成25年度) / 特許

1) 2,013 特許 野地 澄晴, 川那辺 純一, 宮脇 克行, 木田 琢郎, 佐々木 啓幸, 佐藤 靖夫, 平田 和弘, 金 慶日 : 3次元イムノクロマトグラフィー方式を用いた検査診断用シート,検査診断用デバイス,および標識物の検出方法, 特願2013-239149 (2013年11月), 特開2015-099095 (2015年5月), . [EdbClient | EDB]
2) 2,013 特許 野地 澄晴, 川那辺 純一, 宮脇 克行, 木田 琢郎, 佐々木 啓幸, 佐藤 靖夫, 平田 和弘, 金 慶日 : 3次元イムノクロマトグラフィー方式を用いた糖尿病検査診断用シート,糖尿病検査診断用デバイス,およびミオイノシトールの検出方法, 特願2013-239148 (2013年11月), 特開2015-099094 (2015年5月), . [EdbClient | EDB]

2013年度(平成25年度) / 実用新案

(なし)

2013年度(平成25年度) / 意匠

(なし)

2014年度(平成26年度)

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2014年度(平成26年度) / 特許

1) 2,014 特許 Dobashi Kazuya and Kensuke Inai : Substrate cleaning apparatus, TW103127761 (Aug. 2014), TW201530630 A (Aug. 2015), . [EdbClient | EDB]
2) 2,014 特許 Dobashi Kazuya and Kensuke Inai : Substrate cleaning apparatus, KR2014-0106977 (Aug. 2014), KR20150021462 A (Mar. 2015), 10-1697401 (Jan. 2017). [EdbClient | EDB]
3) 2,014 特許 Dobashi Kazuya and Kensuke Inai : Substrate cleaning apparatus, US14/463,673 (Aug. 2014), US2015052702 A1 (Feb. 2015), 10,049,899 (Aug. 2018). [EdbClient | EDB]

2014年度(平成26年度) / 実用新案

(なし)

2014年度(平成26年度) / 意匠

(なし)

2015年度(平成27年度)

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2015年度(平成27年度) / 特許

1) 2,015 特許 野地 澄晴, 石丸 善康 : 害虫駆除成分のスクリーニング方法, 特願2015-207010 (2015年10月), 特開2017-77212 (2017年4月), . [EdbClient | EDB]

2015年度(平成27年度) / 実用新案

(なし)

2015年度(平成27年度) / 意匠

(なし)

2016年度(平成28年度)

patent.{@.apply.date="20160400 20170399" @.organization=\E{68727}}

2016年度(平成28年度) / 特許

(なし)

2016年度(平成28年度) / 実用新案

(なし)

2016年度(平成28年度) / 意匠

(なし)

2017年度(平成29年度)

patent.{@.apply.date="20170400 20180399" @.organization=\E{68727}}

2017年度(平成29年度) / 特許

(なし)

2017年度(平成29年度) / 実用新案

(なし)

2017年度(平成29年度) / 意匠

(なし)

2018年度(平成30年度)

patent.{@.apply.date="20180400 20190399" @.organization=\E{68727}}

2018年度(平成30年度) / 特許

(なし)

2018年度(平成30年度) / 実用新案

(なし)

2018年度(平成30年度) / 意匠

(なし)

2019年度(平成31(令和元)年度)

patent.{@.apply.date="20190400 20200399" @.organization=\E{68727}}

2019年度(平成31(令和元)年度) / 特許

(なし)

2019年度(平成31(令和元)年度) / 実用新案

(なし)

2019年度(平成31(令和元)年度) / 意匠

(なし)

2020年度(令和2年度)

patent.{@.apply.date="20200400 20210399" @.organization=\E{68727}}

2020年度(令和2年度) / 特許

(なし)

2020年度(令和2年度) / 実用新案

(なし)

2020年度(令和2年度) / 意匠

(なし)

2021年度(令和3年度)

patent.{@.apply.date="20210400 20220399" @.organization=\E{68727}}

2021年度(令和3年度) / 特許

(なし)

2021年度(令和3年度) / 実用新案

(なし)

2021年度(令和3年度) / 意匠

(なし)

2022年度(令和4年度)

patent.{@.apply.date="20220400 20230399" @.organization=\E{68727}}

2022年度(令和4年度) / 特許

(なし)

2022年度(令和4年度) / 実用新案

(なし)

2022年度(令和4年度) / 意匠

(なし)

2023年度(令和5年度)

patent.{@.apply.date="20230400 20240399" @.organization=\E{68727}}

2023年度(令和5年度) / 特許

(なし)

2023年度(令和5年度) / 実用新案

(なし)

2023年度(令和5年度) / 意匠

(なし)

2024年度(令和6年度)

patent.{@.apply.date="20240400 20250399" @.organization=\E{68727}}

2024年度(令和6年度) / 特許

(なし)

2024年度(令和6年度) / 実用新案

(なし)

2024年度(令和6年度) / 意匠

(なし)