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期間: 2004.42011.3

2004年度(平成16年度)

patent.{@.apply.date="20040400 20050399" @.organization=\E{11027}}

2004年度(平成16年度) / 特許

1) 2,004 特許 入谷 忠光, 上保 徹志 : 距離測定装置,距離測定方法および距離測定プログラム, 特願2004-146358 (2004年5月), 特開2005-326345 (2005年11月), 特許第3768511号 (2006年2月). [EdbClient | EDB]
2) 2,004 特許 口井 敏匡, 四柳 浩之 : 半導体集積回路,スキャン回路設計方法,テストパターン生成方法,および,スキャンテスト方法, 特願2004-225962 (2004年8月), 特開2006-047013 (2006年2月), . [EdbClient | EDB]
3) 2,004 特許 橋爪 正樹, 一宮 正博 : 電源電流による検査容易化論理回路, 特願2006-112885 (2004年10月), . [EdbClient | EDB]
4) 2,004 特許 酒井 士郎, 直井 美貴, チョイ ラクジュン : 無極性a面窒化ガリウム単結晶の製造方法, 特願2005-25184 (2005年3月), . [EdbClient | EDB]

2004年度(平成16年度) / 実用新案

(なし)

2004年度(平成16年度) / 意匠

(なし)

2005年度(平成17年度)

patent.{@.apply.date="20050400 20060399" @.organization=\E{11027}}

2005年度(平成17年度) / 特許

1) 2,005 特許 井上 廉 : Ag-Sn合金を使ったNb3Sn極細多芯線の製造方法, 特願2005-158330 (2005年5月), . [EdbClient | EDB]
2) 2,005 特許 木内 陽介, 池原 敏孝, 髙橋 章, 芥川 正武, 中野 政之, 森 美怜, 有田 憲一 : 紫外線殺菌装置, 特願2005-190625 (2005年6月), 特開2007-7083 (2007年1月), 特許第4771402号 (2011年7月). [EdbClient | EDB]
3) 2,005 特許 酒井 士郎 : 交流電源用発光装置, 特願2005-190406 (2005年6月), . [EdbClient | EDB]
4) 2,005 特許 入谷 忠光, 若林 和博 : 距離測定装置,距離測定方法および距離測定プログラム, 特願2005-206798 (2005年7月), 特開2007-24671 (2007年2月), 特許第3784823号 (2006年3月). [EdbClient | EDB]
5) 2,005 特許 酒井 士郎, チョイ ラクジュン : III族窒化物半導体薄膜およびその製造方法並びにIII族窒化物半導体発光素子, 特願2005-250185 (2005年8月), . [EdbClient | EDB]
6) 2,005 特許 酒井 士郎, 住吉 和英, 月原 政志, 片岡 研 : 半導体装置用基材および製造方法, 特願2005-359876 (2005年12月), . [EdbClient | EDB]
7) 2,005 特許 酒井 士郎, 住吉 和英, 月原 政志, 片岡 研 : 半導体装置用基材およびその製造方法, 特願2005-359877 (2005年12月), . [EdbClient | EDB]
8) 2,005 特許 橋爪 正樹, 山達 正明 : 固体撮像装置およびその特性検査方法, 特願2006-032796 (2006年2月), 特許第3932052号 (2007年3月). [EdbClient | EDB]
9) 2,005 特許 酒井 士郎, 直井 美貴, チョイ ラクジュン, リー スンミン, 小池 正好 : 非極性a面窒化ガリウム単結晶の製造方法, 特願2006-47294 (2006年2月), . [EdbClient | EDB]
10) 2,005 特許 Shiro Sakai, Yoshiki Naoi and チョイ ラクジュン : method of growing non-polar a-plane gallium nitride, 2006-077492 (Mar. 2006), . [EdbClient | EDB]

2005年度(平成17年度) / 実用新案

(なし)

2005年度(平成17年度) / 意匠

(なし)

2006年度(平成18年度)

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2006年度(平成18年度) / 特許

1) 2,006 特許 一宮 正博, 橋爪 正樹 : 論理回路の断線故障の検査装置, 特願2006-114044 (2006年4月), . [EdbClient | EDB]
2) 2,006 特許 井上 廉 : Nb3Sn 超伝導線,その製造方法,及びNb3Sn超伝導線の製造に用いられる単芯複合線, 特願2006-152136 (2006年5月), . [EdbClient | EDB]
3) 2,006 特許 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之 : 電子回路の断線故障検査法とその検査容易化回路, 特願2006-309430 (2006年11月), 特開2008-122338 (2008年5月), . [EdbClient | EDB]
4) 2,006 特許 宋 天, 山田 篤, 島本 隆 : 算術符号化装置,算術符号化方法,算術符号化プログラム及びプログラムを格納したコンピュータで読み取り可能な記録媒体, 特願2008-503883 (2007年3月), 特開WO2007/102518 (2007年9月), 特許第4547503号 (2010年7月). [EdbClient | EDB]

2006年度(平成18年度) / 実用新案

(なし)

2006年度(平成18年度) / 意匠

(なし)

2007年度(平成19年度)

patent.{@.apply.date="20070400 20080399" @.organization=\E{11027}}

2007年度(平成19年度) / 特許

(なし)

2007年度(平成19年度) / 実用新案

(なし)

2007年度(平成19年度) / 意匠

(なし)

2008年度(平成20年度)

patent.{@.apply.date="20080400 20090399" @.organization=\E{11027}}

2008年度(平成20年度) / 特許

1) 2,008 特許 酒井 士郎, 直井 美貴 : 発光ダイオードおよびその製造方法, 特願2010-509270 (2008年5月), 特許第5384481号 (2013年10月). [EdbClient | EDB]
2) 2,008 特許 酒井 士郎 : ナノパターンを有するレーザーダイオード及びその製造方法, 特願2008-188715 (2008年7月), 特許第5383109号 (2013年10月). [EdbClient | EDB]

2008年度(平成20年度) / 実用新案

(なし)

2008年度(平成20年度) / 意匠

(なし)

2009年度(平成21年度)

patent.{@.apply.date="20090400 20100399" @.organization=\E{11027}}

2009年度(平成21年度) / 特許

(なし)

2009年度(平成21年度) / 実用新案

(なし)

2009年度(平成21年度) / 意匠

(なし)

2010年度(平成22年度)

patent.{@.apply.date="20100400 20110399" @.organization=\E{11027}}

2010年度(平成22年度) / 特許

(なし)

2010年度(平成22年度) / 実用新案

(なし)

2010年度(平成22年度) / 意匠

(なし)