電気電子システム講座 (詳細)

期間: 2004.4〜2011.3

2004年度(平成16年度)

patent.{@.apply.date="20040400 20050399" @.organization=\E{148364}}

2004年度(平成16年度) / 特許

2,004

特許

入谷忠光, 上保徹志 : 距離測定装置，距離測定方法および距離測定プログラム, 特願2004-146358 (2004年5月), 特開2005-326345 (2005年11月), 特許第3768511号 (2006年2月). [EdbClient | EDB]

2004年度(平成16年度) / 実用新案

(なし)

2004年度(平成16年度) / 意匠

(なし)

2005年度(平成17年度)

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2005年度(平成17年度) / 特許

1)	2,005	特許	木内陽介, 池原敏孝, 髙橋章, 芥川正武, 中野政之, 森美怜, 有田憲一 : 紫外線殺菌装置, 特願2005-190625 (2005年6月), 特開2007-7083 (2007年1月), 特許第4771402号 (2011年7月). [EdbClient \| EDB]
2)	2,005	特許	入谷忠光, 若林和博 : 距離測定装置，距離測定方法および距離測定プログラム, 特願2005-206798 (2005年7月), 特開2007-24671 (2007年2月), 特許第3784823号 (2006年3月). [EdbClient \| EDB]
3)	2,005	特許	橋爪正樹, 山達正明 : 固体撮像装置およびその特性検査方法, 特願2006-032796 (2006年2月), 特許第3932052号 (2007年3月). [EdbClient \| EDB]

2005年度(平成17年度) / 実用新案

(なし)

2005年度(平成17年度) / 意匠

(なし)

2006年度(平成18年度)

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2006年度(平成18年度) / 特許

1)	2,006	特許	一宮正博, 橋爪正樹 : 論理回路の断線故障の検査装置, 特願2006-114044 (2006年4月), . [EdbClient \| EDB]
2)	2,006	特許	橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之 : 電子回路の断線故障検査法とその検査容易化回路, 特願2006-309430 (2006年11月), 特開2008-122338 (2008年5月), . [EdbClient \| EDB]

2006年度(平成18年度) / 実用新案

(なし)

2006年度(平成18年度) / 意匠

(なし)

2007年度(平成19年度)

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2007年度(平成19年度) / 特許

(なし)

2007年度(平成19年度) / 実用新案

(なし)

2007年度(平成19年度) / 意匠

(なし)

2008年度(平成20年度)

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2008年度(平成20年度) / 特許

(なし)

2008年度(平成20年度) / 実用新案

(なし)

2008年度(平成20年度) / 意匠

(なし)

2009年度(平成21年度)

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2009年度(平成21年度) / 特許

(なし)

2009年度(平成21年度) / 実用新案

(なし)

2009年度(平成21年度) / 意匠

(なし)

2010年度(平成22年度)

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2010年度(平成22年度) / 特許

(なし)

2010年度(平成22年度) / 実用新案

(なし)

2010年度(平成22年度) / 意匠

(なし)